giovedì 12 maggio 2016

Omron amplia la gamma dei sistemi di collaudo in tecnologia EFC

News dalle Aziende
Omron ha ampliato la sua gamma di sonde per il collaudo di componenti a semiconduttore e wafer, aggiungendo una molla esterna che assicura la maggiore stabilità di contatto possibile e risultati eccellenti anche in applicazioni ad alta frequenza.

Omron Electronic Components Europe ha ampliato la sua gamma di sonde per il collaudo di componenti a semiconduttore e wafer, aggiungendo una molla esterna che assicura la maggiore stabilità di contatto possibile e i migliori risultati anche in applicazioni ad alta frequenza.

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